X荧光射线膜厚分析仪

 设备功能描述：

· 兼容 Microsoft Windows 操作系统

· 使用 X 荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

· 拥有多种Filter选择性

· 各种样品单层至多层（5 层），合金膜层均可测量

· 定点自动定位分析

· 光径对准全自动

· 影像重叠功能

· 自动显示测量参数

· 彩色区别测量数据

· 多重统计显示视窗与报告编辑应用 

· 2D/3D，任意位置测量控制 

· Y 轴全自动控制

· 雷射对焦与自动定位系统

· 多种机型选择 

· X-ray 运行待命（睡眠）控制

· 温控稳定延长校准时效

· 全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效