日立FT110A

为何选用日立FT110A：

★  快速分析

    强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。

★  无损

    X 射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹。即使是对敏感性材料，其测量也是安全的；同时无需丢弃被测量过的样品。

★  提高生产力

    FT110A 的自动化功能意味着您可以更快地准备和测量样品，从而提高您的分析量。

★  多功能性

    FT110A 可以分析多达四层镀层和基材。可以使用基本参数 (FP)或经验校准来测量镀层和材料成分（如金属合金或电镀液）。

★  易于使用

    培训可轻松完成，因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作台上设置样品，借助友好的界面指定测量区域，然后开始记录读数。用户界面可配置为仅显示日常操作所需的功能。

★  兼容性

    测量方法符合标准 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。